Bord Cuarda Clóbhuailte Tástáil Wafer

Is cineál tábhachtach comhpháirteanna leictreonacha iad cláir chiorcaid phriontáilte tástála wafer a úsáidtear le haghaidh tástála sliseog leathsheoltóra. Is bord speisialaithe é a úsáidtear le haghaidh tástála comhpháirteanna leictreonacha, a úsáidtear go príomha i dtástáil wafer agus ócáidí eile.

Is féidir le trealamh tástála wafer cineálacha éagsúla feistí leathsheoltóra a thástáil, mar shampla ciorcaid chomhtháite, modúil chuimhne, etc. Is féidir leo tástálacha éagsúla a dhéanamh freisin, mar shampla tástáil leictreach, tástáil fheidhmiúil, etc., chun a chinntiú go gcomhlíonann feidhmíocht na gcomhpháirteanna caighdeáin agus ceanglais .

Mar gheall ar an tábhacht a bhaineann le tástáil wafer, meastar go minic go bhfuil tástáil wafer ar chláir chiorcaid phriontáilte mar chomhpháirt leictreonach ríthábhachtach. Dá bhrí sin, sa phróiseas dearadh agus déantúsaíochta, is gá cloí le caighdeáin agus ceanglais ardchruinneas agus iontaofachta chun a n-oibriú cobhsaí fadtéarmach a chinntiú, rud a thugann tacaíocht láidir don tionscal leictreonach nua-aimseartha.

Is cineál de chlár ciorcad priontáilte é bord ciorcad priontáilte tástála wafer a úsáidtear le haghaidh tástála wafer leathsheoltóra, a bhfuil na tréithe seo a leanas aige:

1. Sreangú ard-dlúis:Ní mór do bhoird chiorcaid phriontáilte tástála wafer líon mór comhpháirteanna ciorcaid a iompar, agus tá an fad idir comhpháirteanna ciorcaid an-dlúth, agus mar sin tá gá le sreangú ard-dlúis.

2. Tarchur ardluais:Ní mór don bhord tacú le tarchur ardluais chun an wafer a thástáil go tapa.

3. Ard-iontaofacht:Toisc go ndéanann an pcb tástála wafer an tasc chun an wafer a thástáil, tá a riachtanais iontaofachta an-ard agus ní cheadaítear aon lochtanna.

Mar gheall ar ard-iontaofacht agus cobhsaíocht na mbord tástála wafer, úsáidtear iad go príomha i réimse an táirgthe leathsheoltóra agus is féidir iad a úsáid chun táirgí sliseanna éagsúla a thástáil, lena n-áirítear microprocessors, cuimhní cinn, agus loighic ríomhchláraithe. Is féidir lena chur i bhfeidhm a chumasú do mhonaróirí sliseanna tuiscint níos fearr a fháil ar chaighdeán agus ar fheidhmíocht sliseanna, agus iomaíochas na dtáirgí a fheabhsú.

D'éirigh le Sihui Fuji bord tástála sliseog poll dall 34 sraithe a dhéanamh. Déantar tiús iomlán an bhoird a rialú de réir 4.75 ± 0.254mm, agus is é an trastomhas poll dall náφ{5}}.175mm. Is é an poll léasairφ0.10mm. Is é 0.30mm an t-íosmhéid trí ghiotán druileála poll. Is é 15.83:1 cóimheas tiús an bhoird agus an trastomhas. Agus an bord tástála sliseog ard, ilchiseal agus casta seo á dtáirgeadh, rinneamar rialú docht ar na luachanna crapadh de bhrú, cruinneas druileála, agus tiús poll copair chun cáilíocht an bhoird a chinntiú.

Tá boird chiorcaid phriontáilte tástála wafer ar cheann de na comhpháirteanna fíor-riachtanach agus tábhachtacha sa tionscal leictreonach nua-aimseartha, agus tá tábhacht mhór ag a ndearadh agus a ndéantúsaíocht rathúil chun cruinneas agus comhsheasmhacht feistí leathsheoltóra a chinntiú.

Pictiúr: Clár ciorcad priontáilte tástála Wafer

Sonraíocht an bhoird samplach

Mír: Clár ciorcad priontáilte tástála wafer

Ciseal:34

Ábhar: 370HR

Tiús boird: 4.75±0.254mm

Clibeanna Te: tástáil wafer bord ciorcad priontáilte, an tSín wafer tástáil bord ciorcad priontáilte monaróirí, soláthraithe, monarcha